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弥散张量成像方法及系统
专利权人:
中国科学院深圳先进技术研究院
发明人:
吴垠,刘伟,刘新,郑海荣,邹超,张娜
申请号:
CN201110320298.0
公开号:
CN102334992A
申请日:
2011.10.19
申请国别(地区):
CN
年份:
2012
代理人:
摘要:
一种弥散张量成像方法,其特征在于,包括以下步骤:计算概率密度函数;按照所述概率密度函数进行变密度采样得到无弥散图和多个弥散图所对应的数据;对所述无弥散图和多个弥散图所对应的数据进行重建得到重建图像。上述弥散张量成像方法中,通过计算出概率密度函数,并根据概率密度函数对无弥散图和各弥散图的数据进行变密度采样,大大减少了所需采样的数据,使得采集时间大幅减少,实现快速弥散张量成像。此外,还提供了弥散张量成像系统。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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