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X線装置およびX線測定方法
专利权人:
CANON INC
发明人:
MUKAIDE TAIHEI,向出 大平
申请号:
JP2013120829
公开号:
JP2014012131A
申请日:
2013.06.07
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an X-ray apparatus and an X-ray measuring method which are capable of obtaining a scattering contrast image of an object.SOLUTION: The X-ray apparatus includes detection means 105 configured to detect an intensity of an X-ray flux passed through an object. The detection means includes a first pixel and a second pixel different from the first pixel. The apparatus is configured such that when the object is not disposed in an optical path of the X-ray flux, the center of an intensity distribution of the X-ray flux applied thereto does not coincide with a boundary between the first and second pixels.COPYRIGHT: (C)2014,JPO&INPIT【課題】 被検知物の散乱コントラスト像が取得可能なX線装置およびX線測定方法を提供する【解決手段】 X線装置は、被検知物を透過したX線束の強度を検出する検出手段105を有する。検出手段は、第1の画素と該第1の画素とは異なる第2の画素とを有し、被検知物がX線束の光路中に配置されていない場合において、X線束の強度分布の中心が、第1の画素と第2の画素の境界上に照射されないように構成される。【選択図】 図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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