The present invention provides high-resolution wavefront measurement systems and methods for real-time inspection of optical and geometrical properties of specular and transparent objects, the systems of the invention comprising at least one illumination apparatus, at least one imaging apparatus constructed and configured to image the object onto an image plane, at least one gradient element disposed at one of the aperture stops of the imaging apparatus and a sensor placed in the image plane of the imaging apparatus, wherein the sensor is capable of differentiating between different areas of the gradient element thereby being adapted to provide real-time optical and geometrical data of the object.La présente invention porte sur des systèmes et sur des procédés de mesure de front donde à haute définition pour linspection en temps réel des propriétés optiques et géométriques dobjets spéculaires et transparents, les systèmes selon linvention comprenant au moins un appareil déclairage, au moins un appareil dimagerie réalisé et configuré de façon à réaliser une image de lobjet sur un plan dimage, au moins un élément de gradient disposé à lun des arrêts douverture de lappareil dimagerie et un capteur disposé dans le plan dimage de lappareil dimagerie, le capteur étant apte à effectuer une différenciation entre différentes zones de lélément de gradient, et étant ainsi adapté de façon à délivrer en temps réel des données optiques et géométriques de lobjet.
