光信号生成装置、距離測定装置、分光特性測定装置、周波数特性測定装置及び光信号生成方法

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专利权人:

株式会社東京精密

发明人:

松本 弘一,石井 雅文

申请号：

JP20140030408

公开号：

JP6264547(B2)

申请日:

2014.02.20

申请国别(地区):

日本

年份:

2018

代理人:

摘要：

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/