A method for analyzing a sample comprising a first material and a second material of generally different densities and having a junction therebetween, the method comprising defining a region of interest in a cross sectional image of at least a portion of the sample that includes said junction, determining a density profile of the sample within the region of interest and crossing the junction, determining a representative density of said second material, and analyzing said sample using said junction used to distinguish said first and second materials.L'invention porte sur un procédé d'analyse d'un échantillon comprenant un premier matériau et un second matériau de densités sensiblement différentes et ayant une jonction entre eux, le procédé comprenant la définition d'une région d'intérêt dans une image de section transversale d'au moins une partie de l'échantillon qui contient ladite jonction, la détermination d'un profil de densité de l'échantillon dans la région d'intérêt et d'un côté à l'autre de la jonction, la détermination d'une densité représentative dudit second matériau et l'analyse dudit échantillon à l'aide de ladite jonction utilisée pour distinguer lesdits premier et second matériaux.
