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MEASUREMENT DEVICE AND MEASUREMENT DATA PROCESSING METHOD
专利权人:
株式会社日立ハイテクノロジーズ;HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORP
发明人:
NAKAGAWA HIROMITSU,中川 弘充,EGI MASASHI,恵木 正史,MURO HIROAKI,室 啓朗
申请号:
JP2017242904
公开号:
JP2019109755A
申请日:
2017.12.19
申请国别(地区):
JP
年份:
2019
代理人:
摘要:
To provide a measurement device which enables protection of measurement data in accordance with feature values owned by the measurement data, and a measurement data processing method.SOLUTION: A measurement device 20 comprises a processor and a storage used by the processor. The processor sets, at least for each one feature value included in measurement data stored in the storage (211), a data conversion rate to convert data (212, 222), generates conversion data on the basis of the feature value (223), and replaces a part of the measurement data by the conversion data, on the basis of the data conversion rate (224).SELECTED DRAWING: Figure 1【課題】計測データが持つ特徴量に応じて当該計測データを保護することができるようにした計測装置および計測データ処理方法を提供すること。【解決手段】計測装置20は、プロセッサ部と、プロセッサ部により使用される記憶部とを備え、プロセッサ部は、記憶部(211)に記憶された計測データに含まれる少なくとも一つの特徴量ごとにデータを置換するデータ置換率を設定し(212,222)、特徴量に基づいて置換用データを生成し(223)、データ置換率に基づいて、計測データの一部を置換用データに置き換える(224)。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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