A method and a system for detecting a movement of a surface (3) on an irradiated sample, comprising a light source (1) for irradiating said surface (3) with a coherent light beam, a detector (4) for detecting variations caused by said movement in a speckle pattern produced by reflexions of said light beam at said surface (3), selecting a single speckle from said speckle pattern, and detecting said variations at the selected speckle.Un procédé et un système de détection dun mouvement dune surface (3) sur un échantillon irradié, comprenant une source lumineuse pour irradier ladite surface (3) avec un faisceau de lumière cohérente, un détecteur (4) de détection des variations provoquées par ledit mouvement dans un modèle de granularité produit par les réflexions dudit faisceau de lumière au niveau de ladite surface (3), par la sélection dune granularité unique à partir dudit motif de granularité et détection desdites variations au niveau de la granularité sélectionnée.
