The present invention pertains to an apparatus and method for X-ray imaging wherein a radiation source comprising rows of discrete emissive locations can be positioned such that these rows are angularly offset relative to rows of sensing elements on a radiation sensor. A processor can process and allocate responses of the sensing elements in appropriate memory locations given the angular offset between source and sensor. This manner of allocation can include allocating the responses into data rows associated with unique positions along a direction of columns of discrete emissive locations on the source. Mapping coefficients can be determined that map allocated responses into an image plane.La présente invention se rapporte à un appareil et à un procédé pour une imagerie par rayons X, une source de rayonnement qui comprend des rangées d'emplacements émissifs discrets, pouvant être positionnée de telle sorte que ces rangées soient décalées de manière angulaire par rapport aux rangées d'éléments de détection agencées sur un capteur de rayonnement. Un processeur peut traiter et allouer des réponses des éléments de détection dans des emplacements de mémoire appropriés données en fonction du décalage angulaire entre la source et le capteur. Cette manière d'allocation peut consister à allouer la réponse dans des rangées de données associées à des positions uniques dans la direction des colonnes des emplacements émissifs discrets sur la source. On peut déterminer des coefficients de mise en correspondance qui mettent en correspondance les réponses allouées dans un plan d'image.
