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顕微分光装置
专利权人:
株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人:
曽根原 剛志,日下 裕美,藤井 憲,山本 周平,大浦 剛,藤岡 満
申请号:
JP20160506163
公开号:
JPWO2015133176(A1)
申请日:
2015.01.16
申请国别(地区):
日本
年份:
2017
代理人:
摘要:
高開口数の対物レンズを備えた顕微分光装置では、熱ドリフト等によるデフォーカスが発生するため、オートフォーカスが必要である。従来のスルーフォーカス画像取得に基づくオートフォーカスは時間がかかるため、高速サンプリングを行う長時間連続測定には適用できない。デフォーカスもしくは非点収差を有するデフォーカス検知用ビームを対物レンズに入射させる。このようなデフォーカス検知用ビームのスポットの像のぼけ方は、デフォーカスの向きによって異なるため、デフォーカスの量と向きをリアルタイムで検知することが可能となり、高速なリアルタイムオートフォーカスが可能となる。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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