Provided is an X-ray CT device that can improve the resolution of peripheral areas that are at a distance from the center of rotation. With respect to the FFS technique, in which the X-ray focal point is moved, an offset width between the projected positions, on an X-ray detector, of a first X-ray path from an X-ray focal point in a first view and second X-ray path from an X-ray focal point in a second view is found. The positions of the X-ray focal points in the first and second views are set so that the offset width (15) of the projected positions on the X-ray detector between a first X-ray path and second X-ray path that pass through a point in a specified first region toward the X-ray focal point relative to the center of rotation will be close to (N-1/2) times (where N = 1, 2, 3, …) the X-ray detector channel width.Linvention concerne un dispositif de tomodensitométrie (TDM) permettant daméliorer la résolution de zones périphériques qui sont situées à une certaine distance du centre de rotation. Par rapport à la technique FFS, où le point focal des rayons X est mobile, on détermine une largeur de décalage entre les positions projetées, sur un détecteur de rayons X, dune première trajectoire des rayons X à partir dun point focal dans une première vue et dune seconde trajectoire des rayons X à partir dun point focal dans une seconde vue. Les positions des points focaux dans la première et la seconde vues sont établies de manière à ce que la largeur de décalage (15) des positions projetées sur le détecteur de rayons X entre la première trajectoire des rayons X et la seconde trajectoire des rayons X qui passent à travers un point dans une première zone spécifiée en direction du point focal par rapport au centre de rotation soit proche de (N-1/2) fois (où N = 1, 2, 3, …) la largeur du canal du détecteur de rayons X.回転中心から離れた周辺部の分解能を向上させることができるX線CT装置を提供する。 X線焦点を移動させるFFS手法において、第1ビューのX線焦点からの第1のX線軌跡と、第2ビューのX線焦点からの第2のX線軌跡のX線検出器上の投影位置のずれ幅を求める。回転中心からX線焦点寄りの所定の第1領域内の点を通過する第
