한양대학교 산학협력단;KOH YOUNG TECHNOLOGY INC;INDUSTRY-UNIVERSITY COOPERATION FOUNDATION HANYANG UNIVERSITY;주식회사 고영테크놀러지
发明人:
LEE, Hyun Ki,이현기,YOO, Hong Ki,유홍기,KIM, Chang Soo,김창수,NAM, Hyeong Soo,남형수
申请号：
KRKR2016/011733
公开号：
WO2017/073945A1
申请日:
2016.10.19
申请国别(地区):
KR
年份:
2017
代理人:
摘要：
The present invention provides a full-field OCT system using a wavelength-tunable laser, which can observe peaks of a short-time A-line profile corresponding to each time point at which interference images of an object to be measured are acquired, so as to measure a depth direction movement of the object to be measured, and can correct the phases of interference signals on the basis of the measured depth direction movement, so as to generate an OCT image which is compensated for the depth direction movement.La présente invention concerne un système de TCO plein champ employant un laser accordable en longueur d'onde, qui peut observer des pics d'un profil de ligne A de courte durée correspondant à chaque point temporel auquel des images d'interférence d'un objet à mesurer sont acquises, de façon à mesurer un mouvement dans la direction de la profondeur de l'objet à mesurer, et qui peut corriger les phases de signaux d'interférence sur la base du mouvement en direction de la profondeur mesuré, de façon à produire une image de TCO qui est compensée relativement au mouvement dans la direction de la profondeur.본 발명은, 측정 대상물의 간섭 이미지들이 획득되는 각 시점에 대응하는 단시간 A-line 프로파일의 피크를 관찰함으로써, 측정 대상물의 깊이 방향 움직임을 측정할 수 있고, 측정된 깊이 방향 움직임에 기초하여 간섭 신호들의 위상을 보정함으로써, 깊이 방향 움직임이 보상된 OCT 이미지를 생성할 수 있는, 파장 가변 레이저를 이용한 대면적 OCT 시스템을 제공한다.
