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複数の標高値を用いて高度誤差を推定する装置、プログラム及び方法
- 专利权人:
- ＫＤＤＩ株式会社
- 发明人:
- 泉川 晴紀
- 申请号：
- JP20150137323
- 公开号：
- JP2017020846(A)
- 申请日:
- 2015.07.08
- 申请国别(地区):
- 日本
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 【課題】地上高に対する誤差を推定することができる装置等を提供する。【解決手段】高度誤差推定装置は、目標位置の緯度経度を中心とした所定範囲における複数の標高値を取得する標高値取得手段と、複数の各標高値と、複数の標高値から算出されるモデル標高値との差に基づく標高散布度を算出する標高散布度算出手段と、当該標高散布度から、高度に対する誤差を推定する高度誤差推定手段とを有する。緯度経度には、測位誤差が対応付けられており、標高値取得手段の所定範囲は、緯度経度を中心とした測位誤差の範囲である。また、標高散布度算出手段について、モデル標高値は、複数の標高値に対する平均値であり、標高散布度は、各標高値と該平均値との差の二乗平均平方根であってもよい。更に、誤差に対する高度は、ＧＰＳ測位、気圧値
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
