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基于超宽带相控阵逐层聚焦的多材质联合识别方法及装置
专利权人:
华南理工大学
发明人:
韦岗,陈玉婷,曹燕
申请号:
CN201210545447.8
公开号:
CN103048356B
申请日:
2012.12.15
申请国别(地区):
中国
年份:
2015
代理人:
何淑珍
摘要:
本发明公开了基于超宽带相控阵逐层聚焦的多材质联合识别方法及装置,装置包括设备控制模块、信号收发模块、信号处理模块和曲线参数提取模块,其中信号收发模块与信号处理模块相连,信号处理模块与曲线参数提取模块相连,信号收发模块、信号处理模块和曲线参数提取模块均与设备控制模块相连;识别方法利用测得的反射系数曲线测量值与固有的反射系数经验曲线,可提取出各层材质的电磁参数,实现材质的识别。本发明的装置结构简单,具有识别精度高、安全、便携式的特点。本发明能实现待测物多截面、多角度、多深度的材质识别,且可实现动态聚焦调节。本发明除用于工业材料的识别外,还可用于农产品的质量检查。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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