INDUSTRY-ACADEMIC COOPERATION FOUNDATION; YONSEI UNIVERSITY
发明人:
서진근,이경훈,SEO, JIN KEUNKR,LEE, KYOUNG HUNKR
申请号：
KR1020160074303
公开号：
KR1017879020000B1
申请日:
2016.06.15
申请国别(地区):
KR
年份:
2017
代理人:
摘要：
A method and apparatus for calculating conductivity for generating an electrical impedance tomography image are disclosed. The disclosed conductivity calculation method includes: receiving voltage measurement data for a subject measured using an adjacent current pattern； Determining an adjustment factor using an element of the Jacobian matrix for the model of the conductivity and the boundary voltage distribution relationship according to the conductivity； And multiplying the product of the transposed matrix of the Jacobian matrix and the voltage measurement data vector by the adjustment factor to calculate the conductivity for the subject.전기 임피던스 단층 촬영 영상 생성을 위한 전도도 산출 방법 및 장치 가 개시된다. 개시된 전도도 산출 방법은 인접 전류 패턴을 이용하여 측정된, 피검자에 대한 전압 측정 데이터를 입력받는 단계； 전도도와 상기 전도도에 따른 경계 전압 분포 관계의 모델에 대한 야코비안 행렬의 엘리먼트를 이용하여, 조정 계수를 결정하는 단계； 및 상기 야코비안 행렬의 전치 행렬 및 상기 전압 측정 데이터 벡터의 곱에, 상기 조정 계수를 곱하여 상기 피검자에 대한 상기 전도도를 산출하는 단계를 포함한다.
