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阻抗测量设备和方法以及电子装置
专利权人:
三星电子株式会社
发明人:
李亨优,金尚骏,金钟汃
申请号:
CN201911248416.4
公开号:
CN111317471A
申请日:
2019.09.12
申请国别(地区):
CN
年份:
2020
代理人:
摘要:
提供了一种阻抗测量设备和方法以及电子装置。所述阻抗测量方法包括:产生与第一高频对应的第一电流;产生与第二高频对应的第二电流;基于第一电流和第二电流的拍频现象产生低频电流;并且基于通过与第一电流和第二电流中的至少一个对应的高频电流以及低频电流引入目标部位的电压来计算目标部位的阻抗。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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