一种基于太赫兹反射光谱提取固体薄片复折射率的方法
- 专利权人:
- 北京师范大学
- 发明人:
- 孙萍
- 申请号：
- CN201510367771.9
- 公开号：
- CN105300920B
- 申请日:
- 2015.06.29
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 王民盛`王丽琴
- 摘要：
- 本申请公开了一种基于太赫兹反射光谱提取固体薄片复折射率的方法，制备同一种材料的薄厚不同的两个固体薄片样品，其中薄样品为被测样品，厚样品作为时域信号基线校正时的辅助样品，测量二者的太赫兹时域反射信号；用被测样品和辅助样品的太赫兹时域反射信号之差作为基线，将被测样品的第一、二个峰分别作为基线校正后的参考信号和样品信号；对基线校正后的样品信号和参考信号分别进行复合数字滤波，以去除系统回波和随机噪声；根据滤波后的样品信号和参考信号，用自参考方法提取被测样品的复折射率。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
