PROBLEM TO BE SOLVED: To widely provide a high quality slit lamp microscopic examination.SOLUTION: A slit lamp microscope of the exemplary embodiment includes an illumination system, an imaging system, a movement mechanism, and a three-dimensional image construction unit. The illumination system radiates a slit light onto the anterior eye part of an eye to be examined. The imaging system includes an optical system for guiding a light from the anterior eye part onto which the slit light is radiated, and an image pickup device for receiving the light guided by this optical system on an imaging surface. The movement mechanism moves the illumination system and the imaging system. An object surface along an optical axis of the illumination system, the optical system, and the imaging surface satisfy Scheimpflug conditions. The imaging system acquires a plurality of images of the anterior eye part by performing repeated imaging in parallel with the movement of the illumination system and the imaging system by the movement mechanism. The three-dimensional image construction unit constructs a three-dimensional image on the basis of the plurality of images acquired by the imaging system.SELECTED DRAWING: Figure 1COPYRIGHT: (C)2020,JPO&INPIT【課題】高品質なスリットランプ顕微鏡検査を広く提供する。【解決手段】例示的な実施形態のスリットランプ顕微鏡は、照明系と、撮影系と、移動機構と、３次元画像構築部とを含む。照明系は、被検眼の前眼部にスリット光を照射する。撮影系は、スリット光が照射されている前眼部からの光を導く光学系と、この光学系により導かれた光を撮像面で受光する撮像素子とを含む。移動機構は、照明系及び撮影系を移動する。照明系の光軸に沿う物面と光学系と撮像面とは、シャインプルーフの条件を満足する。撮影系は、移動機構による照明系及び撮影系の移動と並行して繰り返し撮影を行うことにより前眼部の複数の画像を取得する。３次元画像構築部は、撮影系により取得された複数の画像に基づいて３次元画像を構築する。【選択図】図１
