An X-ray inspection system for scanning items is provided. The system includes: a stationary X-ray source extending around a rectangular scanning volume, and defining multiple source points from which X-rays can be directed through the scanning volume an X-ray detector array also extending around the rectangular scanning volume and arranged to detect X-rays from the source points which have passed through the scanning volume a conveyor arranged to convey the items through the scanning volume and at least one processor for processing the detected X-rays to produce scanning images of the items.Linvention concerne un système dinspection par rayons X pour balayer des articles. Le système comprend : une source de rayons X stationnaire sétendant autour dun volume de balayage rectangulaire, et définissant de multiples points de source à partir desquels des rayons X peuvent être dirigés à travers le volume de balayage un réseau de détecteurs de rayons X sétendant également autour du volume de balayage rectangulaire et agencé pour détecter des rayons X provenant des points de source qui ont traversé le volume de balayage un transporteur agencé pour transporter les articles à travers le volume de balayage et au moins un processeur pour traiter les rayons X détectés pour produire des images de balayage des articles.
