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Device for enabling viewing of chamber angle in eye with microscope, has reflector arrangement having two reflectors, where former reflector is arranged in ratio to latter reflector such that it deflects beam towards latter reflector
专利权人:
Carl Zeiss Meditec AG
发明人:
HOEGELE, ARTUR,Artur Högele,HAUGER, CHRISTOPH, DR.,Christoph, Dr. Hauger
申请号:
DE102012107479
公开号:
DE102012107479A1
申请日:
2012.08.15
申请国别(地区):
DE
年份:
2014
代理人:
摘要:
Es wird eine Vorrichtung zum Ermöglichen einer Betrachtung des Kammerwinkels (21) in einem Auge (13) mit einem Operations- oder Untersuchungsmikroskop (1) zur Verfügung gestellt, die ausgestattet ist mit:– einer Reflektoranordnung (7) mit einem ersten Reflektor (25, 33) und einem zweiten Reflektor (27, 35), wobei der erste Reflektor (25, 33) derart im Verhältnis zum zweiten Reflektor (27, 25) angeordnet ist, dass er ein unter einem bestimmten Einfallswinkel (α) auf ihn auftreffendes Strahlenbündel in Richtung auf den zweiten Reflektor (27, 35) ablenkt, und– einer Befestigungseinrichtung (9, 11) zum Befestigen der Reflektoranordnung (7) an einem Operations- oder Untersuchungsmikroskop (1),wobei die Befestigungseinrichtung (9, 11) zum Befestigen der Reflektoranordnung (7) am Operations- oder Untersuchungsmikroskop (1) in einem derartigen Abstand vom Operations- oder Untersuchungsmikroskop (1) und einer derartigen Orientierung bezogen auf das Operations- oder Untersuchungsmikroskop (1) ausgestaltet ist, dass die am Operations- oder Untersuchungsmikroskop (1) befestigte Reflektoranordnung (7) so vom Auge (13) beabstandet positioniert werden kann, dass ein unter einem Winkel (θ) von 70° bis 90° bezogen auf die optische Achse (OAA) des Auges (13) aus dem Auge (13) heraus tretendes Strahlenbündel unter dem bestimmten Einfallswinkel (α) auf den ersten Reflektor (25, 33) auftrifft und der zweite Reflektor (27, 35) das Strahlenbündel in Richtung auf das Hauptobjektiv (3) des Operations- oder Untersuchungsmikroskops (1) ablenkt.The device (5) has a reflector arrangement (7) having two reflectors, where the former reflector is arranged in such a ratio to the latter reflector that it deflects a beam towards the latter reflector. The beam is incident on the former reflector under a certain angle of incidence. A fastening unit is provided for fastening the reflector arrangement to a surgical- or inspection microscope (1). The fastening unit is designed at such a distance
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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