您的位置: 首页 > 农业专利 > 详情页

X線診断装置及びX線診断装置の制御方法
专利权人:
KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA
发明人:
NAGAI,Seiichirou,永井 清一郎
申请号:
JPJP2013/080700
公开号:
WO2014/077283A1
申请日:
2013.11.13
申请国别(地区):
WO
年份:
2014
代理人:
摘要:
Provided are: an X-ray diagnostic device with which progress of operation can be easily determined and a method for controlling the X-ray diagnostic device. The X-ray diagnostic device according to an embodiment comprises an X-ray irradiation unit, a light source device and a luminescent control unit. The X-ray irradiation unit irradiates a subject with X-rays. The light source device includes a luminescent unit and a light emission unit. The luminescent unit comprises an LED or a semiconductor laser that generates light. The light emission unit emits light as an emission light that indicates an irradiation field of the X-rays. The luminescent control unit controls the luminescent unit according to an operating state of the X-ray irradiation unit.La présente invention concerne un dispositif de diagnostic aux rayons X grâce auquel lavancement dune procédure peut être aisément déterminé et un procédé de commande dun dispositif de diagnostic aux rayons X. Le dispositif de diagnostic aux rayons X selon un mode de réalisation de la présente invention comprend une unité dexposition aux rayons X, un dispositif de type source lumineuse et une unité de commande de la luminescence. Lunité dexposition aux rayons X expose un sujet aux rayons X. Le dispositif de type source lumineuse comprend une unité luminescente et une unité démission de lumière. Lunité luminescente comprend une LED ou un laser semi-conducteur qui génère de la lumière. Lunité démission de lumière émet de la lumière sous la forme dune lumière démission qui balise le champ dexposition aux rayons X. Lunité de commande de la luminescence commande lunité luminescente conformément à létat de fonctionnement de lunité dexposition aux rayons X.作業の進行状態を簡便に把握することができるX線診断装置及びX線診断装置の制御方法を提供する。実施形態に係るX線診断装置は、X線照射部と、光源装置と、発光制御部とを有する。X線照射部は、被検体にX線を照射する。光源装置は、発光部と光出射部とを有する。発光部は、光を発するLED又は半導体レーザを有する。光出射部は、光をX線の照射野を示す出射光として出射する。発光制御部は、X線照射部の動作状態に応じて、発光部を制御する。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

意 见 箱

匿名:登录

个人用户登录

找回密码

第三方账号登录

忘记密码

个人用户注册

必须为有效邮箱
6~16位数字与字母组合
6~16位数字与字母组合
请输入正确的手机号码

信息补充