一种基于遗传算法的相参积累外差探测方法
- 专利权人:
- 电子科技大学
- 发明人:
- 董洪舟,杨春平,敖明武
- 申请号：
- CN201611144302.1
- 公开号：
- CN106646423A
- 申请日:
- 2016.12.13
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 曹少华
- 摘要：
- 本发明涉及外差探测领域,尤其是一种基于遗传算法的相参积累外差探测方法，采用遗传算法确定移位步数原理实现相参积累外差探测，利用ADC的相邻采样数据具有固定相位差的特点，用采样序列移位后叠加消除脉冲随机初相位，利用遗传算法确定各个序列的移位步数，从而提高信噪比；本发明由于相参积累是通过搜索算法，以信噪比为评价函数，自动进行相参积累，可以省略复杂的随机相位测量过程，从而减少了系统中相应的光路和电路部分，使得相参积累系统的实施更简单、更经济和更可靠，同时具有很强的实用性。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
