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偏波解析装置、及び偏波解析方法
- 专利权人:
- 学校法人慶應義塾
- 发明人:
- 渡邉 紳一,小口 研一
- 申请号：
- JP20150124617
- 公开号：
- JP2017009418(A)
- 申请日:
- 2015.06.22
- 申请国别(地区):
- 日本
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 【課題】 計測可能な電磁波の周波数帯域を広げ、偏波の状態を簡単かつ高精度に検出する。【解決手段】 ｚ−カットの六方晶、ｚ−カットの三方晶、または（１１１）面の閃亜鉛鉱型結晶を角速度ωで回転し、前記回転する結晶にプローブ光と楕円偏光した電磁波を同期して入射し、結晶を透過したプローブ光を検出して、Ｓ（τ）＝ｆ（Ω）［Ａ'1（Ω）ｃｏｓ（θ（Ω）−３φ）＋ｉＢ'1（Ω）ｓｉｎ（θ（Ω）−３φ）］ｅｘｐ（−ｉΩτ）に基づいて周波数解析することで前記電磁波の楕円率と旋光角を求める。ここで、Ωは前記電磁波の角周波数、Ａ'1は電磁波の電場ベクトルの軌跡を表わす楕円の長軸方向の長さ、Ｂ'1は前記楕円の短軸方向の長さ、θは前記プローブ光の偏光方向に対する前記長軸方向の角度、φは前記プローブ光の偏光方向に対する前記非
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
