PROBLEM TO BE SOLVED: To improve operability of an examination probe 10, while downsizing the examination probe.SOLUTION: The examination probe for use in an apparatus for examining depth of a periodontal pocket, includes an exit part 10A and a holding part 10B. The exit part 10A includes a crystal deflection element for deflecting measuring light branched from low-interference light in a specific direction, and an f-θ lens for parallelizing the deflected measuring light. The parallelized measuring light B1 or the like exits from an opening 16 of the exit part 10A and is applied to gums or teeth of a subject. An optical tomographic image of the gums or teeth is acquired from an interference signal obtained on the basis of reflected light, so that the depth of the periodontal pocket is acquired. The exit part 10A is projected in an exit direction of the measuring light B1 more than the holding part 10B so as to apply the measuring light B1 or the like perpendicularly to the depth direction of the periodontal pocket without causing a hand holding the holding part 10B to come into contact with the gums or the like.SELECTED DRAWING: Figure 4【課題】検査用プローブ１０を小型化しつつ，検査用プローブの操作性を向上させることを目的とする。【解決手段】歯周ポケットの深さを検査する装置に用いられる検査用プローブには，出射部１０Ａと把持部１０Ｂとが含まれている。出射部１０Ａには低干渉光から分岐された測定光を，特定の方向に偏向させる結晶偏向素子および偏向させられた測定光を平行化するｆ－θレンズが含まれている。平行化された測定光Ｂ１などが出射部１０Ａの開口１６から出射し，被験者の歯茎または歯に照射される。反射光にもとづいて得られる干渉信号から歯茎または歯の光断層画像が得られ，歯周ポケットの深さが分かる。出射部１０Ａは把持部１０Ｂよりも測定光Ｂ１などの出射方向に突出しているから，把持部１０Ｂをもっても手が歯茎などに接触せずに，歯周ポケットの深さ方向に対して垂直に測定光Ｂ１などを照射できる。【選択図】図４
