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DISPOSITIF D'INSPECTION DE POCHE PÉRIODONTIQUE
专利权人:
TANITA CORPORATION;株式会社タニタ
发明人:
SHINDO Mikio,新藤幹雄
申请号:
JPJP2018/005381
公开号:
WO2018/168314A1
申请日:
2018.02.16
申请国别(地区):
JP
年份:
2018
代理人:
摘要:
The purpose of the present invention is to improve the operability of an inspection probe (10) while miniaturizing the inspection probe. According to the present invention, an inspection probe used in a device for inspecting the depth of a periodontal pocket includes an emission part (10A) and a grip part (10B). The emission part (10A) includes: a crystal deflection element which deflects, in a specific direction, measuring light beams branched from low interference light; and an f-θ lens which parallelizes the deflected measuring light beams. The parallelized measuring light beams (B1) or the like are emitted from an opening (16) of the emission part (10A) and irradiated to the gums or teeth of a subject. An optical tomographic image of the gums or teeth is obtained from an interference signal obtained on the basis of reflected light, and thus the depth of the periodontal pocket can be known. Since the emission part (10A) protrudes further in the emission direction of the measuring light beams (B1) than the grip part (10B), the measuring light beams (B1) can be irradiated perpendicularly to the depth direction of the periodontal pocket without a hand coming into contact with the gums or the like, even when holding the grip part (10B).La présente invention concerne l'amélioration de l'exploitabilité d'une sonde d'inspection (10) tout en miniaturisant la sonde d'inspection. Selon la présente invention, une sonde d'inspection utilisée dans un dispositif d'inspection de la profondeur d'une poche périodontique comprend une partie d'émission (10A) et une partie de préhension (10B). La partie d'émission (10A) comprend : un élément de déflexion cristallin qui dévie, dans un sens spécifique, les faisceaux de lumière de mesure ramifiés à partir de la lumière d'interférence faible ; et une lentille (f-θ) qui parallélise les faisceaux de lumière de mesure déviés. Les faisceaux de lumière de mesure parallélisés (B1) ou analogues sont émis depuis une ouverture (16) de la partie
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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