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专利权人:
SAMSUNG ELECTRONICS CO.; LTD.*
发明人:
HAE-KYUNG JUNG,MYUNG-JIN EOM,HEE-CHUL YOON,HYUN-TAEK LEE,YONG-JE KIM,JAE-HYUN KIM
申请号:
MX2013000151
公开号:
MX2013000151A
申请日:
2013.01.07
申请国别(地区):
MX
年份:
2013
代理人:
摘要:
A method and apparatus for automatically measuring biometrics of an object. The method includes receiving an image of an object (S301), modeling the object such that at least one part thereof may be identified (S303), and measuring biometrics of the object based on a result of modeling the object (S305).La presente invención se refiere a un método y aparato para medir automáticamente las biometrías de un objeto. El método incluye recibir una imagen de un objeto, modelar el objeto de modo que al menos una parte del mismo se puede identificar, y medir las biometrías del objeto con base en un resultado de la rnodelación del objeto.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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