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異常増殖などのサンプル若しくは組織のタイプ若しくは性質を分析し、特徴付け、及び/又は診断するためのラマン分光法システム、装置及び方法
专利权人:
ナショナル ユニヴァーシティー オブ シンガポール
发明人:
ジーウェイ・フアン
申请号:
JP2016575728
公开号:
JP2017524924A
申请日:
2015.07.02
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
Characterization, identification or diagnosis of samples and \/ or properties of samples and tissues such as abnormal growth using Raman spectra is different spectral sub in Raman spectra in two different wavelength ranges such as FP and HW wavelength ranges The interval is analyzed to identify the coincidence with one or more reference markers in one or both wavelength ranges including, by identifying, identifying or diagnosing the type and \/ or nature of the sample or tissue. The FP and HW Raman spectra can be detected simultaneously or acquired using a single diffraction grating.ラマンスペクトルを使用する異常成長などのサンプルや組織のタイプ及び/又は性質の特徴付け、同定又は診断は、FP及びHW波長範囲などの2つの異なる波長範囲におけるラマンスペクトル内の異なるスペクトルサブインターバルを分析して、一方又は両方の波長範囲における1以上の基準マーカーとの一致を同定し;該一致から、該サンプルや組織のタイプ及び/又は性質を特徴付け、同定し又は診断することを含む。FP及びHWラマンスペクトルは、単一回折格子を用いて同時に検出又は取得することができる。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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