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基于旋转谐波图的磁场自由线磁粒子成像方法
专利权人:
北京航空航天大学
发明人:
田捷,李光辉,刘晏君,安羽
申请号:
CN202310054783.0
公开号:
CN115778353A
申请日:
2023.02.03
申请国别(地区):
CN
年份:
2023
代理人:
摘要:
本发明属于磁粒子成像技术领域,具体涉及一种基于旋转谐波图的磁场自由线磁粒子成像方法、系统、设备,旨在解决现有磁粒子成像方法系统矩阵的测量过程复杂、耗时,占用内存大,计算时间长,严重限制了磁粒子成像设备的系统校正效率,成像实时性较低的问题。本发明方法包括:设置基于磁场自由线的磁粒子成像装置的相关参数,开启并运行;构建不同阶的系统函数谐波图;测量各旋转角度下待成像的目标对象的响应信号并构建观测向量序列;旋转不同阶的系统函数谐波图,构建各旋转角度下的系统矩阵;重建磁粒子图像。本发明通过旋转谐波图的方式来构建其他旋转角度的系统矩阵,大大降低系统矩阵测量的复杂度,提高磁粒子成像设备系统校正效率。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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