基于一维系统矩阵稀疏采样的磁场自由线磁粒子成像方法
- 专利权人:
- 北京航空航天大学
- 发明人:
- 田捷,李光辉,安羽,刘晏君
- 申请号：
- CN202310054746.X
- 公开号：
- CN115797493A
- 申请日:
- 2023.02.03
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2023
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明属于磁粒子成像技术领域，具体涉及一种基于一维系统矩阵稀疏采样的磁场自由线磁粒子成像方法、系统、设备，旨在解决现有基于密集采样的系统矩阵的磁粒子成像方法校正效率低、基于稀疏采样的系统矩阵的磁粒子成像方法后处理模型相对复杂、成像效率低的问题。本发明方法包括：设定初始角度、旋转角度序列和成像视野大小，并测量在初始角度下磁场自由线梯度方向上的一维系统矩阵；建立观测向量序列；构建线性方程组序列并求解，得到一维投影重建结果序列；基于一维投影重建结果序列重建目标物体的磁粒子图像。本发明大大降低校正难度的同时，不需要后处理模型，提升了成像效率。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
