一种测量分子层折射率的方法
- 专利权人:
- 上海交通大学
- 发明人:
- 叶坚,林俐,刘中辉,古宏晨
- 申请号：
- CN201610755915.2
- 公开号：
- CN106338493A
- 申请日:
- 2016.08.29
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 郑立
- 摘要：
- 本发明提供了一种测量分子层折射率的方法，所述方法包括如下步骤：1)制备金属纳米核，在所述金属纳米核表面吸附待测分子，形成所述待测分子的分子层，同时测量金属纳米核在吸附待测分子前后的吸收光谱偏移；2)在分子层外表面包覆金属壳层，得到内嵌待测分子的核壳结构金属纳米颗粒；通过透射电子显微镜测量核壳间隙尺寸，得到分子层的厚度；3)根据测得的分子层厚度数据，建立吸收光谱与分子层折射率的关系模型；4)假定多个分子层折射率，通过所述的关系模型计算得到多个模拟光谱偏移量，最终得到待测分子层的有效折射率。本发明提供的方法能有效测定纳米颗粒表面分子层的折射率。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
