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提高电阻抗成像准确性的方法、系统、装置和存储介质
- 专利权人:
- 华南理工大学
- 发明人:
- 徐向民,花浩镪,郑慧敏,熊奇伟
- 申请号：
- CN202110987158.2
- 公开号：
- CN113808230A
- 申请日:
- 2021.08.26
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2021
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了一种提高电阻抗成像准确性的方法、系统、装置和存储介质，其中方法包括：输入电流信息，采集电压信息，根据所述电流信息和所述电压信息获取电导率信息；根据所述电导率信息构建获得电导率图像；将电导率图像输入预设的神经网络进行图像重建，输出重建区域以及置信度；在不同时间上依次输入n次电流信息后，获得n个重建区域以及与重建区域对应的置信度；根据置信度获取最优的重建区域作为最终的电阻抗成像结果。本发明采用神经网络对电导率图像进行重建，获取输出重建区域以及置信度，通过采集多次信息后，根据置信度获取最优的重建区域作为最终的电阻抗成像结果，提高电阻抗成像的准确性。本发明可广泛应用于电阻抗成像领域。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
