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磁気誘導断層撮影システムを較正するための方法及び装置
专利权人:
コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ
发明人:
ヤン ミン,チェン ダユ
申请号:
JP2010550286
公开号:
JP5000768B2
申请日:
2009.03.03
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
This invention regards the method and the device in order to calibrate the offset of the image pickup system. It is to deduce the optimum set of the offset data which minimizes the value of merit function in order the idea being core of this invention arranges the reference object in the measurement chamber of the image pickup system, measures the signal which it is related with the reference object at the respective point in time, calculates merit function on the basis of the change of the parameter which displays the electromagnetic quality of the reference object, to revise the offset of the system at the time of after picture reconstructing. In one execution example, as for this invention, filling up by the non-conductive crust, and the conductive fluid it decreases the image pickup interference which is pulled up by the reference object between monitoring making use of the reference object which consists of the cavity which can make the sky, this way.本発明は、撮像システムのオフセットを較正するための方法及び装置に関する。本発明の核心となるアイデアは、撮像システムの測定チャンバ中に参照物体を配置し、それぞれの時点で参照物体と関連した信号を測定し、参照物体の電磁的特性を表すパラメータの変化に基づいてメリット関数を計算し、以降の画像再構成においてシステムのオフセットを補正するためにメリット関数の値を最小化するオフセットデータの最適なセットを導き出すことである。一実施例において、本発明は、非導電性外皮及び導電性流体によって充填されて空にされることができるキャビティから成る参照物体を用いて、このようにして、モニタリングの間に参照物体によって引き起こされる撮像干渉を低減する。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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