Provided are a microneedle array imaging device and method and a microneedle array inspection device and method, which can inspect microneedle arrays with high precision on the basis of acquired images. Parallel light beams are emitted as illumination light onto a surface opposite a surface on which microneedles 2 are disposed, and the microneedle array 1 is imaged from the side of the surface on which the microneedles 2 are disposed. When doing so, the illumination light is emitted under conditions in which the incident angle α of light onto the bottom surface 2a of the microneedles 2 is equal to or greater than 90-θ degrees, and the incident angle β of light onto a side surface 2b of the microneedles 2 is less than a critical angle γ. Accordingly, it is possible to achieve a state in which almost no light is outputted from a tip portion of the microneedles 2. Thus, an image can be captured in which only the tip portion of the microneedles 2 is dark, and other portions, that is, a base portion of the microneedles 2 and a portion of a sheet 3 are bright.La présente invention concerne un dispositif et un procédé d'imagerie de matrice de micro-aiguilles et un dispositif et un procédé d'inspection de matrice de micro-aiguilles, qui permettent d'inspecter des matrices de micro-aiguilles avec une précision élevée sur la base d'images acquises. Des faisceaux de lumière parallèles sont émis en tant que lumière d'éclairage sur une surface opposée à une surface sur laquelle des micro-aiguilles 2 sont disposées, et la matrice de micro-aiguilles 1 est imagée depuis le côté de la surface sur laquelle les micro-aiguilles 2 sont disposées. De cette manière, la lumière d'éclairage est émise dans des conditions dans lesquelles l'angle d'incidence α de la lumière sur la surface inférieure 2a des micro-aiguilles 2 est supérieur ou égal à 90 degrés θ, et l'angle d'incidence β de la lumière sur une surface latérale 2b des micro-aiguilles 2 est inférieur à un angle critique γ. En conséq
