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APPAREIL ET MÉTHODE D'ÉVALUATION DE PARAMÈTRES UTÉRINS
专利权人:
SAMSUNG ELECTRONICS CO.; LTD.
发明人:
SINGHAL, Nitin,KUDAVELLY, Srinivas Rao
申请号:
KRKR2018/006303
公开号:
WO2018/222006A1
申请日:
2018.06.01
申请国别(地区):
KR
年份:
2018
代理人:
摘要:
A method of assessing uterine parameters via a apparatus including a processor includes determining, by the processor, at least one uterine parameter based on one or more ultrasound images of a uterus of a subject, the one or more ultrasound images being obtained on predefined days within an IVF cycle of the subject, tracking, by the processor, a change in the at least one uterine parameter, and predicting, by the processor, success of embryo implantation based on the change in the at least one uterine parameter.Cette invention concerne une méthode d'évaluation de paramètres utérins par l'intermédiaire d'un appareil doté d'un processeur, la méthode comprenant la détermination, par le processeur, d'au moins un paramètre utérin basé sur une ou plusieurs images ultrasonores de l'utérus du sujet, où ladite ou lesdites images ultrasonores sont obtenues certains jours prédéfinis dans le cycle FIV du sujet ; le suivi, par le processeur, d'une variation dudit ou desdits paramètres utérins, et la prédiction, par le processeur, du succès de l'implantation des embryons en fonction de la variation dudit ou desdits paramètres utérins.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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