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皮膚測定システム
专利权人:
SHARP CORP
发明人:
YAMAZAKI YUKIO,山崎 幸生,FUKUMOTO SHOHEI,福本 章平
申请号:
JP2012083746
公开号:
JP2013212247A
申请日:
2012.04.02
申请国别(地区):
JP
年份:
2013
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To solve the problem that a conventional skin measurement system can only measure a small area and for instance, it is difficult to be used as a reference during foundation application.SOLUTION: A first light source having a peak wavelength from a wavelength of 700 nm to 1,100 nm and a second light source having a peak wavelength from a wavelength of 350 nm to 700 nm irradiate skin of such as a face in order. A signal obtained by measuring reflected light of the skin by irradiating the skin with light from the first light source and a signal obtained by measuring the reflected light of the skin by irradiating the skin with light from the second light source are subjected to a difference computation process. Accordingly, spots and freckles or the like on skin in a large area such as a face can be measured by a relatively inexpensive system.COPYRIGHT: (C)2014,JPO&INPIT【課題】 従来の皮膚測定システムは狭い面積しか測定することができず、例えばファンデーション塗布の際に参考とすることは難しかった。【解決手段】 波長700nmから1100nmにピーク波長を有する第1の光源と、波長350nmから700nmにピーク波長を有する第2の光源とを順番に顔などの皮膚に照射し、CCDからなる受光部103を用いて撮影し、第1の光源から光を皮膚に照射し皮膚の反射光を受光部で測定して得られた信号と、第2の光源から光を皮膚に照射し皮膚の反射光を受光部で測定して得られた信号とを差分演算処理する。これにより比較的安価なシステムで顔のような広い面積の皮膚のシミ、ソバカス等を測定することができる。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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