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Method for determining proportion of scattered radiation of X-rays on image object during two-dimensional X-ray imaging, involves closing two-dimensional X-ray image data set to scattered radiation reflected in X-ray image data set
专利权人:
Siemens Aktiengesellschaft
发明人:
RUEHRNSCHOPF, ERNST-PETER,Ernst-Peter Rührnschopf,DENNERLEIN, FRANK,Frank Dennerlein
申请号:
DE102011006400
公开号:
DE102011006400A1
申请日:
2011.03.30
申请国别(地区):
DE
年份:
2012
代理人:
摘要:
Es soll der Anteil an Streustrahlung bei der Aufnahme eines 2D-Röntgenbilddatensatzes eines Bildobjekts (O) ermittelt werden, der zum Röntgenstrahlungsdetektor (D) gelangt. Hierzu werden zwei Röntgenbilddatensätze zum selben Bildobjekt (O) unter Variation des Abstands (L0, L1) des Röntgenstrahlungsdetektors (D) von dem Bildobjekt (O) gewonnen. Anhand von jeweils beiden 2D-Röntgenbilddatensätzen kann dann auf die Streustrahlung geschlossen werden, die sich in einem der 2D-Röntgenbilddatensätze niederschlägt. Es stehen insbesondere bildpunktweise zwei Informationen aus den beiden 2D-Röntgenbilddatensätzen zur Verfügung, sodass der Anteil der Primärstrahlung und der Streustrahlung unter Verwendung eines geeigneten mathematischen Objektes in beiden 2D-Röntgenbilddatensätzen ermittelbar ist.The method involves obtaining two X-ray image data sets for same image object, by varying distance (L0,L1) of the X-ray radiation detector (D) of image object (O). Each two-dimensional X-ray image data set is closed to the scattered radiation which is reflected in one of the two-dimensional X-ray image data sets. An independent claim is included for method for correcting two-dimensional X-ray image data set.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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