A test strip is provided with sample capture that provides for a one step process to achieve a lancing event, sample capture and sample transport in a sensor design that supports one step testing. In various embodiments, the present invention provides for one step testing by, (i) analyte sample capture layout (ii) analyte sample capture and transport configurations (iii) structures of sample capture (iv) processes for forming sample transport, and the like.La présente invention concerne une bandelette de test pourvue dune capture déchantillon qui permet dutiliser un procédé à une étape pour obtenir un événement de perçage, une capture déchantillon et un transport déchantillon dans une conception de capteur qui permet deffectuer un test en une étape. Dans différents modes de réalisation, la présente invention concerne un test en une étape par, (i) une disposition de capture déchantillon danalyte (ii) des configurations de capture et de transport danalyte (iii) des structures de capture déchantillon (iv) des procédés pour former un transport déchantillon, et similaire.
