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連続時間線形等化器の周波数利得特性測定方法および半導体装置
- 专利权人:
- 富士通株式会社
- 发明人:
- 尾形 祐紀
- 申请号：
- JP20150136133
- 公开号：
- JP2017022446(A)
- 申请日:
- 2015.07.07
- 申请国别(地区):
- 日本
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 【課題】出荷時のテストで搭載するＣＴＬＥの周波数−利得特性が測定可能な半導体装置の実現。【解決手段】受信回路16と、制御回路17と、を有し、受信回路は、入力信号を増幅する可変利得増幅器52と、線形等化処理を行う連続時間線形等化器53と、連続時間線形等化器の入力と出力の一方を選択するエラー用選択回路54と、エラー情報抽出回路55,56,72と、を有し、制御回路は、テスト用パターンデータが入力された状態で、選択回路を切り替えながら、エラー情報に基づいて連続時間線形等化器の入力と出力の振幅を、可変利得増幅器の利得を調整して飽和しない状態で測定し、入力と出力の振幅比から連続時間線形等化器の利得を測定し、連続時間線形等化器の利得の測定を、連続時間線形等化器の制御コードおよびテスト用パターンデータを変化させて
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
