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PROCÉDÉ DE DÉTECTION ET DE LOCALISATION DE DÉFAUTS D'ISOLEMENT DE FILS DE DISPOSITIF IMPLANTABLE
专利权人:
LLC;Lamda Nu
发明人:
申请号:
EP13798150.2
公开号:
EP2854702A1
申请日:
2013.05.30
申请国别(地区):
EP
年份:
2015
代理人:
摘要:
The invention relates to a method and apparatus for diagnosis of conductor anomalies, such as insulation failures, in an implantable medical device, such as an implantable cardioverter defibrillator (ICD), a pacemaker, or a neurostimulator. Insulation failures are detected and localized by identifying changes in electrical fields via surface (skin) potentials. Small variations in potential are detected along the course of the electrode near the site of insulation failure.L'invention concerne un procédé et un appareil qui permettent de diagnostiquer des anomalies de conducteur, telles que des défauts d'isolement, dans un dispositif médical implantable, tel qu'un défibrillateur à synchronisation automatique implantable (ICD), un stimulateur cardiaque ou un neurostimulateur. Des défauts d'isolement sont détectés et localisés par identification de changements de champs électriques par l'intermédiaire de potentiels de surface (peau). De petites variations de potentiel sont détectées le long du parcours de l'électrode près du site du défaut d'isolement.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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