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Method and apparatus for detecting cracks in eggshells
专利权人:
Moba Group B.V.
发明人:
VAN WEGEN, Edwin,DE BAERDEMAEKER, Josse,KEMPS, Bart,BRUNNENKREEF, Jeroen Evert Jan,DE KETELAERE, Bart
申请号:
ES13739868
公开号:
ES2687021T3
申请日:
2013.07.05
申请国别(地区):
ES
年份:
2018
代理人:
摘要:
A method for characterizing eggshells, the eggs being supported, comprising, - deforming, at least, a first part S1 of the shell of an egg (E) as such, - scanning with a laser beam (3) of a Vibrometer (2) Own Mixing Laser (SMLV) with scanning signals said first part S1, or, at least, a second part S2 of said shell with laser source light from a laser source having wavelengths λ, with 100 <;λ <;1500 nm, according to which one is obtained a reflection light reflection light signal, -processing said scanning signal and said reflection signal with said SMLV, according to which a mixed signal with amplitude A is obtained (t) or quantity A '(t) derived from it, according to which crack information is obtained, -move the eggs during scanning, -scan in these parts immediately after the deformation that starts at (0), in the period 0 <;t <;1000 μ s after t (0), -in said processing, compare said signal with parameters and predetermined characteristics of such eggs, according to which comparative data is obtained, and -characterize said shells on the basis of said comparative data.Un método para caracterizar cáscaras de huevos, siendo soportados los huevos, que comprende, -deformar, al menos, una primera parte S1 de la cáscara de un huevo (E) como tal, -escanear con un rayo (3) láser de un Vibrómetro (2) Laser de Mezcla Propia (SMLV) con señales de escaneo dicha primera parte S1, o, al menos, una segunda parte S2 de dicha cáscara con luz de fuente láser a partir de una fuente laser que tiene longitudes de onda λ, con 100 <; λ <; 1500 nm, según lo cual una se obtiene una señal de luz de reflexión de luz de reflexión, -procesar dicha señal de escaneo y dicha señal de reflexión con dicho SMLV, según lo cual se obtiene una señal mixta con amplitud A(t) o cantidad A'(t) que deriva de esta, según lo cual se obtiene información de grieta, -mover los huevos durante escaneo, -escanear en dichas partes inmediatamente luego de la deformación que inicia a t(0), en el período 0
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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