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暗所屈折度数測定用光学製品及び暗所屈折度数測定方法
专利权人:
TOKAI KOGAKU KK
发明人:
SUZUKI EIJI,鈴木 栄二
申请号:
JP2013107336
公开号:
JP2014228649A
申请日:
2013.05.21
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical product capable of being used in a dark place deflection diopter measurement method for measuring deflection diopter in a dark place, the method can be easily executed in the dark place having change of an adjustment state.SOLUTION: The dark place deflection diopter measurement optical product is formed so that spectrum transmittance distribution is 10% or lower in a wavelength of 400 nm or more and 650 nm or less, and transmittances to the light in a wavelength of 530 nm and to the light in a wavelength of 560 nm become equal. In the dark place deflection diopter measurement method, using the dark place deflection diopter measurement optical product, measurements in non-subjective frequency are executed, for example a red green test.COPYRIGHT: (C)2015,JPO&INPIT【課題】簡単に実行可能であり、調節状態の変化を織り込んだ暗所における屈折度数を測定可能である暗所屈折度数測定方法において使用可能な光学製品を提供し、又当該方法を提供する。【解決手段】本発明の暗所屈折度数測定用光学製品は、分光透過率分布が波長400nm以上650nm以下において10%以下であり、波長530nmの光に対する透過率と560nmの光に対する透過率が同等であるように形成されている。本発明の暗所屈折度数測定方法では、この暗所屈折度数測定用光学製品を用いて、レッドグリーンテストを始めとする自覚的な度数の測定が行われる。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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