自动调整用于x射线检测器的信号分析参数
- 专利权人:
- 西门子股份公司
- 发明人:
- T·弗洛尔,S·卡普勒
- 申请号：
- CN201610091401.1
- 公开号：
- CN105916283B
- 申请日:
- 2016.18.02
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2019
- 代理人:
- 摘要：
- 描述了一种用于自动确定用于x射线检测器(16)的信号分析参数的调整性设定的方法(400)。采用该方法(400),获取与待检查对象(O)的尺寸、在待检查对象(O)中的x射线衰减、待检查对象(O)的检查性质和检查区域有关的信息。然后基于所获取的信息来确定信号分析参数值(SPW)。还描述了一种用于自动设定x射线检测器(16)的信号分析参数的方法(500)。还描述了一种用于确定用于x射线检测器(16)的信号分析参数(SP)的调整性设定的设施(40)。还描述了一种x射线系统(1)。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
