A method of classifying waveform data includes receiving input waveform data at a test and measurement system, accessing a repository of reference waveform data and corresponding classes, analyzing the input waveform data and the reference waveform data to designate a class of the input waveform data, and using the class designation to provide information to a user. A test and measurement system has a user interface, at least one input port, a communications port, a processor, the processor configured to execute instructions causing the processor to: receive input waveform data through at least one of the input port or the user interface； access a repository of reference waveform data； analyze the input waveform data using the reference waveform data； designate a class of the input waveform data； and use the class to provide information to the user about the input waveform.Selon l'invention, un procédé de classification de données de forme d'onde consiste à recevoir des données de forme d'onde d'entrée au niveau d'un système de test et de mesure, accéder à un référentiel de données de forme d'onde de référence et à des classes correspondantes, analyser les données de forme d'onde d'entrée et les données de forme d'onde de référence pour désigner une classe des données de forme d'onde d'entrée, et utiliser la désignation de classe pour fournir des informations à un utilisateur. Un système de test et de mesure comprend une interface utilisateur, au moins un port d'entrée, un port de communication, un processeur, le processeur étant configuré pour exécuter des instructions pour faire exécuter les opérations suivantes par le processeur : recevoir des données de forme d'onde d'entrée par l'intermédiaire du port d'entrée et/ou de l'interface utilisateur ； accéder à un référentiel de données de forme d'onde de référence ； analyser les données de forme d'onde d'entrée en utilisant les données de forme d'onde de référence ； désigner une classe des données de forme d'onde d'e
