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Crystal Form (S) - Square
专利权人:
MERIAL; INC.
发明人:
GORTER DE VRIES, ROELOF JOHANNES,KOZLOVIC, STPHANE,GAY DE SAINT MICHEL, MYRIAM,BAILLON, BRUNO,LAFONT, SYLVAINE
申请号:
ARP180100859
公开号:
AR111412A1
申请日:
2018.04.05
申请国别(地区):
AR
年份:
2019
代理人:
摘要:
1. Characteristic 1: A crystal formula compound (1)Designated as shape I, these crystals are characterized by their powder X-ray diffraction characteristics, including peaks of 3, 4, 5, 6, 7 or higher selected from the 10.03 degree group.Ten point four eightThirteen point one sixFifteen point four two15.80 degrees16.07%17.65 degreesTwenty point one sixTwenty-two point one five23.68 degrees26.52 and 28.13Q +0.2 were determined by a dichroism spectrometer using CU-KA radiation. Requirement 11: Complex. Formula Crystal (1)Its properties are specified as Form II. These crystals are characterized by their powder X-ray diffraction characteristics, including peaks of 3, 4, 5, 6, 7 or higher selected from the 5.99 degree group.12.99 degrees15.80 degrees18.71 degreesNineteen point three threeTwenty point two four21.65 degreesTwenty-two point one seven26.11 and 29.002q (+0.2) were determined by a two-chromatograph using CU-KA radiation.Reivindicación 1: Un compuesto cristalino de fórmula (1), caracterizado porque está designado como Forma I, donde dichos cristales se caracterizan porque tienen un patrón de difracción de rayos X de polvo que comprende tres, cuatro, cinco, seis, siete o más picos seleccionados entre el grupo que consiste en: 10,03º, 10,48º, 13,16º, 15,42º, 15,80º, 16,07º, 17,65º, 20,16º, 22,15º, 23,68º, 26,52º y 28,13º 2q ± 0,2 según se determina con un difractómetro que usa radiación Cu-Ka. Reivindicación 11: Un compuesto. cristalino de fórmula (1), caracterizado porque está designado como Forma II, donde dichos cristales se caracterizan porque tienen un patrón de difracción de rayos X de polvo que comprende tres, cuatro, cinco, seis, siete o más picos seleccionados entre el grupo que consiste en: 5,99º, 12,99º, 15,80º, 18,71º, 19,33º, 20,24º, 21,65º, 22,17º, 26,11º y 29,00º 2q ± 0,2 según se determina con un difractómetro que usa radiación Cu-Ka.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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