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温度測定回路
- 专利权人:
- 株式会社 Ｔｒｉｇｅｎｃｅ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ
- 发明人:
- 鈴木 肇
- 申请号：
- JP20160156296
- 公开号：
- JP2018025427(A)
- 申请日:
- 2016.08.09
- 申请国别(地区):
- 日本
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 摘要：
- 【課題】より精確な温度を検出する温度測定回路を提供する。【解決手段】第１抵抗素子、前記第１抵抗素子の温度係数と異なる温度係数を有する第２抵抗素子、および、入力される選択信号に応じて選択される前記第１抵抗素子または前記第２抵抗素子が順次接続されるコンデンサを有し、入力される交流信号の周波数に応じた前記コンデンサの充放電によって直流成分を有する第１信号を出力する変換回路４０と、基準信号と前記変換回路から出力された第１信号とが入力され、当該第１信号の電圧が当該基準信号の電圧と一致するように前記交流信号の周波数を制御する制御回路２５と、前記選択信号が前記第１抵抗素子を選択しているときに前記制御回路から出力される前記交流信号の第１周波数、および前記選択信号が前記第２抵抗素子を選択して
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
