一种交会对接逼近段成像敏感器非目标成像的仿真方法
- 专利权人:
- 北京控制工程研究所
- 发明人:
- 张春明,解永春
- 申请号：
- CN201410459328.X
- 公开号：
- CN104240292A
- 申请日:
- 2014.09.10
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2014
- 代理人:
- 安丽
- 摘要：
- 本发明一种交会对接逼近段成像敏感器的非目标成像仿真方法，适用于针孔模型的光学系统的杂散光分析。该方法在应用迭代算法前，须导入具有分组属性的表面数据并预先计算每个待切分面元的切分信息；在迭代算法中，采用了双线程架构，并设计了包含BRDF模型输入输出结果和互遮挡控制代码的结构化面元数据，一个线程利用迭代细分算法产生这种面元数据，另一个线程以之为输入并基于辐射几何得到单个像元接收的辐照度。另外，针对杂散光计算时微面元的互遮挡问题，提出了具体可行的伪投影成像算法。本发明方法模拟的仿真图像可给出非目标成像细节，利用人眼能够直接辨认，而现有的杂散光分析软件尚未能实现这一点。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
