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Verfahren und Vorrichtung zur Positionierung einer Röntgenvorrichtung
专利权人:
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
发明人:
LIN LIN, YUNG,Yung Lin Lin
申请号:
DE102012200686
公开号:
DE102012200686A1
申请日:
2012.01.18
申请国别(地区):
DE
年份:
2013
代理人:
摘要:
Die vorliegende Erfindung beschreibt ein Verfahren (1) zur Positionierung einer Röntgenvorrichtung (10), umfassend folgende Verfahrensschritte:S1) mit Hilfe einer bildgebenden Vorrichtung (50) Akquisition eines Bilddatensatzes (61), der einen Untersuchungsbereich (19) eines Untersuchungsobjektes (18) umfasst, wobei die Daten des Bilddatensatzes (61) in einem der bildgebenden Vorrichtung (50) eigenen Bezugskoordinatensystem (53) vorliegenS2) Erhalten von Koordinaten (62) innerhalb des Bilddatensatzes (61) und Bestimmung von ersten Positionierungsdaten für die Röntgenvorrichtung (10) derart, dass bei einer vorgebbaren Lage (44) des Untersuchungsobjektes (18) eine Röntgenaufnahme mit der Röntgenvorrichtung (10), die die ersten Positionierungsdaten berücksichtigt, Bildinformationen an den Koordinaten, die den Koordinaten (62) innerhalb des Bilddatensatzes (61) entsprechen, umfasstS3) Übertragung der ersten Positionierungsdaten an die Röntgenvorrichtung (10)S4) Bestimmung der Lage (45) des Untersuchungsbereiches (19) des Untersuchungsobjektes (18) in einem der Röntgenvorrichtung (10) eigenen Bezugskoordinatensystem (43) und Bestimmung von zweiten Positionierungsdaten (15, 16) in Abhängigkeit einer Transformation des der bildgebenden Vorrichtung (50) eigenen Bezugskoordinatensystems (53) in das der Röntgenvorrichtung (10) eigenen Bezugskoordinatensystem (43)S5) Positionierung der Röntgenvorrichtung (10) in Abhängigkeit der zweiten Positionierungsdaten (15, 16).The method involves acquiring an image data set (61) by an imaging device (50). The image data set has an examination area (19) of an examination object (18). The coordinates (62) are obtained inside an image data set for determining a positioning data for an X-ray device (10) with a predetermined position (44) of the examination object. A position (45) of the examination zone of the examination object is determined in a reference coordinate system (43) of the X-ray apparatus. An independent claim is included for a
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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