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高解像度網膜結像方法および装置
专利权人:
イマジン・アイズ
发明人:
レベック、ザビエル,ラモリー、バーバラ
申请号:
JP2013552161
公开号:
JP2014504529A
申请日:
2012.01.27
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要:
< Topic >Retina image formation manner and the device where signal-to-noise ratio is improved are offered.SolutionsThis invention, the three-dimensional frequency structure of 250cycles/mm which was measured in regard to high resolution retina image formation manner and the device, especially, for illuminating the retina of the eye (10) of the subject the light ray on the surface of the illuminant (LS r) and the retina which radiate the retina at least to have the device (15) and the balancing plane which measure optical fault in the analytical aspect of optical image formation type (16) and the optical fault which make forming the image of part possible for the detection possible detection device (12) and the detection device (12), on the said balancing plane, the illuminantIn order to adjust from (LS r) the rear the light ray which disperses according to the optical fault which was measured with the measurement equipment (15) with the retina it has with the adjustment device (14) which is intended. The balancing plane and the analytical aspect the specified aspect (17) of the eye are conjugation optically, the incident pupil of optical image formation type 1st value min and has the diameter between 2nd values max. 1st value is stipulated structure of the retina which shows the three-dimensional frequency of 250cycles/mm, in image formation wavelength in order to make detection possible, with the detection device (12), 2nd value is under 5.75mm.< Choice figure >Drawing 9【課題】信号対雑音比が改善された網膜結像方法および装置を提供する。【解決手段】本発明は、高解像度網膜結像方法および装置に関し、特に、被験者の眼(10)の網膜の照明のために光線を発光する光源(LSr)と、網膜の面において測定された250cycles/mmの空間周波数構造を検出可能な検出装置(12)と、検出装置(12)に網膜の少なくとも一部の像の形成を可能とする光学結像系(16)と、光学的欠点の解析面で光学的欠点を測定する装置(15)と、修正面を備え、該修正面において、光源(LSr)からの網膜で後方散乱された光線を測定装置(15)で測定された光学的欠点に応じて修正するよう意図された修正装置(14)とを備える。修正面および解析面は、眼の所定の面(17)と光学的に共役であり、光学結像系の入射瞳は、第1の値Φminと第2の値Φmaxの間の直径を有する。第1の値は、250cycles/mmの空間周波数を示す網膜の構造を、結像波長において検出装置(12)により検出可能とするよう規定され、第2の値は、5.75mm未満である。【選択図】図9
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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