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X-ray imaging apparatus and X-ray imaging method
专利权人:
キヤノン株式会社
发明人:
大内 千種,長井 健太郎,田 透,伊藤 英之助
申请号:
JP2010535804
公开号:
JPWO2010050483A1
申请日:
2009.10.27
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
Provided are an X-ray imaging apparatus and an X-ray imaging method capable of acquiring a differential phase image or a phase image of a subject from at least one imaging. The X-ray imaging apparatus according to the present invention includes a phase grating 130, an absorption grating 150, a detector 170, and an arithmetic device 180. The arithmetic device 180 performs a Fourier transform process for obtaining a spatial frequency spectrum by performing a Fourier transform on the moire intensity distribution obtained by the detector. In addition, a phase recovery step is performed in which a spectrum corresponding to the carrier frequency is separated from the spatial frequency spectrum obtained by the Fourier transform step, and a differential phase image is obtained using inverse Fourier transform.少なくとも1回の撮像から、被検体の微分位相像または位相像を取得することができるX線撮像装置およびX線撮像方法を提供する。本発明に係るX線撮像装置は、位相格子130と吸収格子150と検出器170と演算装置180を有する。演算装置180は、検出器で取得したモアレの強度分布をフーリエ変換することにより、空間周波数スペクトルを取得するフーリエ変換工程を実行する。また、フーリエ変換工程により得られた空間周波数スペクトルから、キャリア周波数に対応したスペクトルを分離し、逆フーリエ変換を用いて微分位相像を取得する位相回復工程を実行する。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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