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用于体积计算机断层摄影成像的多面可平铺检测器
- 专利权人:
- 通用电气公司
- 发明人:
- A·伊赫勒夫
- 申请号：
- CN201010625136.3
- 公开号：
- CN102440794A
- 申请日:
- 2010.12.27
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2012
- 代理人:
- 摘要：
- 提供具有增加切片采集与最小图像数据降级的CT图像采集系统和方法。系统(10)包括将x射线(16)的锥形射束从x射线投射源(14)的焦点(15)投射到对象(22)的经定位x射线投射源(14)和定位在可旋转机架(12)上以接收被对象(22)衰减的x射线的多个检测器模块(20)。检测器模块(20)中的每个包括具有顶表面(56)的模块框架(52)，顶表面包括形成在其上的为相对焦点(15)以不同角定向而构造的多个面(58)和定位在多个面(58)上以接收被对象(22)衰减的x射线并将x射线(16)转换为电信号的多个子模块(60)，每个子模块(60)基于其上安装子模块(60)的相应面(58)以相对焦点(15)的角定向。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
