The present invention relates to an X-ray source, comprising: an X-ray source (22) capable of emitting an X-ray beam in a longitudinal direction towards an object, the beam having a propagation direction defined with respect to the longitudinal direction of the emission of the X- A plurality of sensors 20a-20c arranged to be arranged side by side with respect to the longitudinal direction of the beam, intended to receive the beam portions irradiated with the object , While the assembly rotates about an X-ray source-separation device-rotational axis (24) while irradiating an object along each of the geometric orientations of the assembly with a plurality of X-ray beam portions, and on the other hand , Which may adopt different geometric orientations that are angularly shifted relative to one another to receive a plurality of X-ray beam portions illuminating the object along each of these geometric orientations And the geometric orientation of the assembly is defined on the one hand by the focus of the X-ray source and, on the other hand, by the position of the geometry axis 34 passing through the rotation axis 24, (34) is laterally shifted with respect to the center of the plurality of sensors (20a-20c).본 발명은 - 오브젝트를 향해 길이 방향으로 X-선 빔을 방출할 수 있는 X-선 소스(22), - 빔을, 각각이 상기 X-선 빔의 방출의 길이 방향에 관하여 정의된 전파 방향을 갖는 복수의 빔 부분들로 동시에 분리하기 위한 디바이스(32), - 오브젝트를 조사한 빔 부분들을 수신하도록 의도되며 빔의 길이 방향에 관하여 횡방향으로 나란히 배열되는 여러 개의 센서들(20a 내지 20c)을 포함하며, 어셈블리가 X-선 소스 - 분리 디바이스 - 회전축(24) 주위를 돌며 한편으로, 복수의 X-선 빔 부분들로 상기 어셈블리의 기하학적 방위들의 각각의 것을 따라 오브젝트를 조사하도록, 및 다른 한편으로, 이들 기하학적 방위들의 각각의 것을 따라, 오브젝트를 조사한 복수의 X-선 빔 부분들을 수신하도록 서로에 대하여 각도가 시프트되는 상이한 기하학적 방위들을 채택할 수 있는 센서들로 이루어지고, 상기 어셈블리의 기하학적 방위는 한편으로, X-선 소스의 초점을 통해, 및 다른 한편으로, 회전축(24)을 통해 통과하는 기하축(34)의 위치에 의해 정의되며, 기하축(34)은 복수의 센서들(20a 내지 20c)의 중심에 관하여 횡방향으로 시프트되는, 컴퓨터 단층 촬영 방사선 장치에 관한 것이다.
